Die Raster­sonden­mikroskope bieten höchste Flexibilität und eine Vielzahl von Konfigurations­möglichkeiten.

Das SEM-AFM ist eine Verschmelzung von Raster­elektronen­mikroskop und Raster­sonden­mikroskop. Es wird exclusiv über Carl Zeiss vertrieben.

Wir entwickeln auch spezielle Geräte für Ultrah­ochvakuum­anwendungen, Hoch­temperatur­messungen, Nahfeld­messungen, elektrochemische Untersuchungen.